详情介绍
分析原理：
掠入射XRD（GIXRD）是专门用来测试薄膜样品的手段。测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射↘测试XRD的谱图绝∑对峰强相对较弱。但是平行光可「以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底←，因此掠入射XRD专门用于测试〒薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求，但是需要测试面平整光洁，不要※有遮挡物，这样测试结果才真实↘可信。
需求下单
详情价▆格请咨询4001191996或者咨询在线客服元